熔接接頭的故障診斷和排除
熔接是指利用電弧將兩根光纖熔接在一起，通常用于連接250微米外部設(shè)備光纖和建筑物外接口處的900微米內(nèi)部設(shè)備光纖，利用精密切割機正確切割光纖后，再通過熔接機實現(xiàn)熔接。對于單根光纖或12芯光纖帶狀電纜的熔接，可以通過多路熔接來完成，一次熔接所有12根光纖。
熔接具有低損耗和極小反射率，被認為是連接兩根光纖的非常強且可靠的方法。只要正確進行，熔接接頭的損耗可低于0.1dB。接下來讓我們仔細研究一下這些高性能連接點的定位和故障診斷方面的注意事項。

我無法找到接頭

使用福祿克OptiFiber™ Pro OTDR光纖測試儀時，質(zhì)量過硬的接頭損耗低且沒有連接器的反射，可能不會被顯示出來。但如果您想要定位一個熔接接頭，盡管該接頭沒有質(zhì)量問題，又該如何操做呢？
只需利用手動OTDR選項對設(shè)置進行一些簡單調(diào)整即可，這很容易。首先，您需要在福祿克OptiFiber Pro光纖測試儀上設(shè)置損耗門限，以定位損耗低于0.1dB的事件。OptiFiber Pro自動設(shè)置的損耗門限為0.15dB，這意味著只會發(fā)現(xiàn)等于或高于該水平的事件。但是，損耗門限可以由用戶定義，取值范圍從0.01至1.50dB。
請注意，較小門限意味著測試儀需要進行更多測量或使用更寬脈寬，這可能會增加測試時間或跡線上的死區(qū)。低于0.15dB的損耗門限也可能導(dǎo)致OTDR發(fā)現(xiàn)由于光纖固有缺陷導(dǎo)致的錯誤事件。
更改平均時間也有助于定位熔接接頭。“平均時間”設(shè)置了測量平均次數(shù)以創(chuàng)建軌跡——較長時間可減少噪音，從而揭示更多細節(jié)，如非反射性接頭事件。

識別問題 解決問題
利用高質(zhì)量的切割和熔接機，很容易實現(xiàn)正確熔接。但是，如果接頭和膨脹部分沒有沿著熔纖盤的導(dǎo)線板正確地放置在熔纖盤內(nèi)，則可能會導(dǎo)致超出光纖的彎曲半徑。
如要定位這種類型的應(yīng)力，您可能需要測試兩種波長：多模為850和1300nm；單模為1310和1550。在較長波長下，受應(yīng)力的光纖將顯示出明顯較高的損耗，而通常較長波長會顯示較低損耗。您可能還需要利用VFL來確定問題是否出現(xiàn)在破裂或扭曲的光纖，而不是尾纖連接器，因為軌跡上的事件通常會出現(xiàn)在連接器附近。
雙向測試也很重要。如果尾纖與其正在熔接的光纖之間存在反向散射不匹配，則將在一個方向上看起來像增益(即負損耗)，在另一個方向上有過多損耗(即虛假損耗)。如果從兩個方向進行測試，并對損耗進行平均，則可獲得實際損耗。
為了簡化雙向測試，福祿克OptiFiber® Pro光纖測試儀內(nèi)置了一個“SmartLoop OTDR”助手，在雙芯光纖鏈路的遠端使用一個環(huán)路，這樣您就可從一端進行雙向測試。OptiFiber® Pro還內(nèi)置有平均功能，可將兩個測量結(jié)果進行平均，從而提供準確的損耗測量值。

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